お知らせ《2018年》

【Web掲載】日経 xTECH〔クロステック〕に時任研究室M2圓岡岳（Gaku TSUBURAOKA）さんの第65回応用物理学会春季学術講演会での発表に関する記事「印刷デバイスの高性能化に貢献、四端子測定法」が掲載されました。

2018/04/09

日経 xTECH〔クロステック〕に時任研究室M2圓岡岳（GakuTSUBURAOKA）さんの第65回応用物理学会春季学術講演会での発表に関する記事「印刷デバイスの高性能化に貢献、四端子測定法」が掲載されました。

• 日経 xTECH〔クロステック〕：

http://tech.nikkeibp.co.jp/atcl/nxt/column/18/00022/00014/?ST=nxt_thmdm_device
（この記事は日経 xTECH有料会員限定ですが、2018年4月12日5時まではどなたでもご覧いただけます。）

• 時任研HP： http://tokitolabo.yz.yamagata-u.ac.jp/index.htm

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